В состав дорогостоящего оборудования ЦКП-САЦ входят приборы:
- ЯМР-Фурье спектрометр AVANCE 600 BRUKER BioSpin (Германия);
- высокоэффективный цифровой ЯМР спектрометр AVANCE IITM 400МГц BRUKER BioSpin (Германия);
- импульсный ЯМР-Фурье спектрометр AVANCE II TM-500 Bruker Corporation (Германия);
- трехкружный автоматический монокристальный рентгеновский дифрактометр с координатным детектором Smart Apex II Брукер-AXS (Германия);
- автоматический рентгеновский дифрактометр с координатным детектором Single-Crystal System KAPPA APEX II Брукер-AXS (Германия);
- автоматический порошковый рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE Брукер-AXS (Германия);
- автоматический рентгеновский дифрактометр малоуглового рентгеновского рассеяния NanoSTAR SAXS Брукер-AXS (Германия);
- исследовательский комплекс из ИК-Фурье-спектрометра и ИК-Фурье-спектрометра c Раман-приставкой Tensor 37 Vertex 70 RAM II Bruker Optic GmbH (Германия);
- газовый хромато-масс-спектрометр высокого разрешения с двойной фокусировкой с электронной и химической ионизацией DFSDFS Thermo Fisher Scientific (США);
- элементный CHNS-O высокотемпературный анализатор EuroEA 3028-HT-OM Eurovector S.p.A. (Италия);
- сканирующий электронный микроскоп TM-1000 HITACHI (Япония);
- масс-спектрометр времяпролетный высокого разрешения с лазерно-десорбционной ионизацией в матрице (MALDI) MALDI TOF/TOF ULTRAFLEX III Bruker Daltonik GmbH (Германия);
- энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр настольного типа EDX-800HS Shimadzu Corporation (Япония);
- спектрофотометр Lambda 35 Perkin Elmer, Inc. (США);
- система высокоэффективной жидкостной хроматографии Agilent 1200 Agilent Technologies (США);
- масс-спектрометр с ионной ловушкой и ионизацией электрораспылением (ESI) и химической ионизацией при атмосферном давлении (APCI) Amazon XBruker Daltonix GmbH (Германия);
- газовый хромато-масс-спектрометр квадрупольный с электронной и химической ионизацией GCMS-QP 2010 Ultra Shimadzu (Германия);
- дифференциальный сканирующий калориметр с термогравиметрическим анализатором STA 449 F3 Jupiter Netzsch Geratebau GmbH, (Германия);
- газовый хромато-масс-спектрометр квадрупольный с электронной ионизацией Agilent 6890N/5973 Agilent Technologies (США);
- спектрофотометр атомно-абсорбционный AAS-1 Carl Zeiss Jena (Германия);
- спектрометр атомно-абсорбционный novAA 350 Analytic Jena AG (Германия);
- хроматограф газовый Кристалл 2000МЗАО СКБ «Хроматэк» (Россия);
- хроматограф газовый Agilent 7890А Agilent Technologies (США) ;
- хроматограф жидкостный Agilent 1200 Agilent Technologies (США) ;
Стоимость комплекса оборудования превышает 500 млн. руб.
Физические, химические и физико-химические методы анализа, представленные для пользователей ЦКП, позволяют провести комплексное исследование любого вещества и материала, независимо от его агрегатного состояния и типа.
Методические возможности определяются следующим перечнем основных методик исследований:
- элементный анализ хроматографический;
- элементный анализ рентгенофлуоресцентный;
- синхронный термический анализ (ТГ/ДСК);
- газовая хромато-масс-спектрометрия;
- жидкостная хромато-масс-спектрометрия;
- жидкостная хроматография;
- масс-спектрометрия МАЛДИ;
- регистрация спектров комбинационного рассеяния;
- регистрация инфракрасных спектров;
- регистрация ультрафиолетовых и видимых спектров;
- регистрация двумерных корреляционных спектров: гетероядерных HSQC, HMBC, гомоядерных COSY, long-range COSY, TOCSY;
- двумерный эксперимент DOSYl
- рентгеноструктурный анализ монокристаллов на автоматических рентгеновских дифрактометрах;
- рентгеноструктурный анализ монокристаллов на автоматических рентгеновских дифрактометрах при пониженных температурах (от -160оС), на автоматических рентгеновских дифрактометрах;
- рентгеноструктурный анализ монокристаллов, изолированных от атмосферы стеклянным капилляром или изолирующей аморфной оболочкой, на автоматических рентгеновских дифрактометрах;
- порошковый рентген-дифракционный анализ на автоматических рентгеновских порошковых дифрактометрах;
- малоугловое рентгеновское рассеяние. Методы определения формы, размера частиц или пор, молекулярно-массового распределения частиц, ближнего и дальнего порядка расположения частиц в пространстве;
- сканирующая электронная микроскопия поверхностей твёрдых тел с увеличением до 10000 (разрешение до 50 нм);
- физико-химический анализ состава воды для лабораторного анализа 2 степени чистоты (деионизированной воды);
- физико-химический анализ состава воды дистиллированной;
- физико-химический анализ состава воды питьевой;
- физико-химический анализ состава воды природной (поверхностной и подземной) в т.ч. воды источников питьевого водоснабжения;
- физико-химический анализ состава воды сточной и сточной очищенной;
- физико-химический анализ воды пластовой;
- исследование стационарных источников загрязнения;
- исследование дымовых и отходящих газов;
- физико-химический анализ состава промышленных выбросов;
- физико-химический анализ состава атмосферного воздуха;
- физико-химический анализ состава отходящих газов топливосжигающих установок;
- физико-химический анализ состава воздуха рабочей зоны;
- физико-химический анализ почв;
- физико-химический анализ состава осадков, шламов, активного ила очистных сооружений, донных отложений, осадков сточных вод, твердых и жидких отходов производства и потребления;
- обследование селитебных территорий, территорий жилой застройки, помещений жилых и общественных зданий.